Технические характеристики и особенности

  • Оптическая система по схеме Пашена-Рунге с использованием современных CMOS детекторов
  • Радиус круга Роуланда 350 мм
  • Диапазон длин волн от 130 до 900 нм
  • Автоматическое профилирование линий при каждом измерении
  • Автоматическая система поддержания постоянной температуры в оптической камере 36° С
  • Возможность работы со сплавами на основах: Fe, Al, Cu, Ni, Ti, Mg, Co, Pb, Sn, Zn
  • CMOS детекторы позволяют с высокой точностью измерять низкие содержания C, P, S, As, B, N и все виды металлических элементов
  • RecalTune позволяет проводить стандартизацию по одному образцу
  • Механический прижим образца и открытый дизайн искрового столика обеспечивают анализ образцов любых форм и размеров до 15 кг
  • Уникальная конструкция искрового столика значительно уменьшает расход аргона и обеспечивает высокое качество обдува электрода во время измерения
  • Полностью цифровой источник искрового разряда частотой до 1000 Гц обеспечивает высокую стабильность искры при анализе
  • Возможно добавление основ после внедрения в эксплуатацию на месте заказчика
  • Напряжение: 220-230 В, 50-60 Гц
  • Максимальная потребляемая мощность 700 Вт
  • Габаритные размеры: настольная версия — 830х700х460мм, напольная версия — 830х700х1230 мм
  • Вес: настольная версия 80 кг, напольная 120 кг
Артикул:
Цена по запросу

Товар отсутствует

VELES CXR-980—стационарный вакуумный оптико-эмиссионный спектрометр. Устройство массово используется в лабораторных помещениях производства или в его специально оборудованных цехах. Адаптированная система оптики позволяет определять низкие концентрации элементов. Спектрометр имеет настольное и напольное исполнение. Передача сигнала от измерительного столика в оптическую систему происходит напрямую без использования оптоволоконных соединений, что значительно улучшает измерение элементов в ультрафиолетовой области.

Диапазоны измеряемых элементов VELES CXR-980

Диапазоны калибровок могут быть расширены в соответствии с требованиями заказчика при наличии стандартных образцов и не являются пределами аналитических возможностей анализатора

Фильтр